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Página inicial > Últimas Notícias > Metrologia da Força Aérea Americana recebe visita técnica do IFI
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No período de 30 de outubro a 2 de novembro de 2017, o Capitão Especialsita em Suprimento Alex Alves de Lima e o Técnico Antonio Carlos dos Santos Junior visitaram as instalações do Air Force Metrology and Calibration (AFMETCAL) dos Estados Unidos, na Cidade de Heath, Estado de Ohio.
A visita técnica compreendeu reuniões com as áreas de gestão laboratorial e de qualidade, além do conhecimento da capacidade laboratorial do Air Force Primary Standards Laboratory (AFPSL) que representa a mais alta hierarquia da cadeia metrológica da Força Aérea Americana. Além disso, foi apresentada aos representantes do IFI a estrutura do Precision Measurement Equipment Laboratory (PMEL) da Base Aérea de Dayton que é responsável pela calibração e manutenção dos padrões de transferência de metrologia e instrumentos de medição operados naquela Base Aérea. Ao todo, 65 PMELs estão distribuídos ao longo do território americano.
Essa troca de conhecimento com gerentes, engenheiros e técnicos da Força Aérea Americana possibilita ao Sistema de Metrologia Aeroespacial (SISMETRA) da Força Aérea Brasileira um  grande aprimoramento das atividades metrológicas de interesse do Comando da Aeronáutica nas áreas de defesa, espacial e aeronáutica, por meio da maximização do Programa Foreign Military Sales (FMS), no qual são obtidos equipamentos e serviços de Metrologia que não estão disponíveis no Brasil. 

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