RELAÇÃO DE SERVIÇOS DO LABORATÓRIO | ||
DESCRIÇÃO DO SERVIÇO (CALIBRAÇÃO / MEDIÇÃO) |
FAIXA DE MEDIÇÃO | CAPACIDADE DE MEDIÇÃO E CALIBRAÇÃO (CMC) |
MEDIDAS DE TENSÃO AC | ||
Fonte de Tensão | 1 mV a 1 kV, 10 Hz a 1MHz | 55,5 μV a 43,9 mV |
Medidor de Tensão | 2 mV a 1 kV, 10 Hz a 1MHz | 4,2 μV a 94 mV |
MEDIDAS DE TENSÃO DC | ||
Padrão de Tensão de Estado Sólido (Zener) | 10 V | 0,7 µV |
Fonte de Tensão | 100 mV a 1 kV | 0,42 μV a 4,6 mV |
Medidores de Tensão | 100 mV a 1 kV | 0,81 μV a 11 mV |
MEDIDAS DE CORRENTE AC | ||
Padrão de Transferência de Corrente (A40) de AC/DC | 10 mA a 20 A, 1 kHz a 10 kHz | 70 ppm a 190 ppm |
Fonte de Corrente | 100 μA a 10 A, 300 Hz a 10 kHz | 35,06 nA a 5,821 mA |
Medidor de Corrente | 100 μA a 1 A, 1 kHz | 0,12 μA a 1,2 mA |
MEDIDAS DE CORRENTE DC | ||
Fonte de Corrente | 100 μA a 10 A | 2,3 nA a 5,11 mA |
Medidor de Corrente | 100 μA a 1 A | 18 nA a 260 μA |
MEDIDAS DE RESISTÊNCIA EM CORRENTE CONTÍNUA | ||
Resistor | 1 mΩ a 10 mΩ | 0,016 mΩ a 0,09 mΩ |
0,1 Ω a 1 MΩ | 0,73 mΩ a 1,9 Ω |
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10 MΩ | 60 Ω |
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Medidores de Resistência | 10 Ω a 10 MΩ | 68 mΩ a 36 Ω |
Calibrador | 1 Ω a 19 MΩ | 18 mΩ a 39 Ω |
MEDIDAS DE RESISTÊNCIA EM CORRENTE ALTERNADA | ||
Medidores de RCL | 100 Ω, 20 Hz a 96 kHz | 1 mΩ a 2 mΩ |
1 kΩ, 20 Hz a 1kHz | 10 Ω a 20 Ω |
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MEDIDAS DE CAPACITÂNCIA | ||
Capacitor Padrão | 1 pF a 1 μF, 1 kHz | 60x10-6 pF a 80 pF |
Medidores de RCL | 10 pF a 1 μF, 1 kHz | 0,4x10-3 pF a 90 nF |
MEDIDAS DE INDUTÂNCIA | ||
Indutor Padrão | 100 mH, 1 kHz | 0,017 mH |
Medidores de RCL | 100 mH, 1 kHz | 0,01 mH |
MEDIDAS DE FREQUÊNCIA | ||
Frequência | 10 MHz | 7,63x10-13 (Δf/f) |
MEDIDAS DE ALTA FREQUÊNCIA | ||
Frequência | 100 kHz a 26,5 GHz | (10-10 a 10-8) partes/dia |
Nível | (-60 a +16) dBm | 0,8% a 3,2% |
OBSERVAÇÕES: | ||
1- A capacidade de medição e calibração (CMC) refere-se á menor incerteza que o Laboratório é capaz de obter, com uma probabilidade de abrangência ou nível da confiança de aproximadamente 95%. | ||
2- O Laboratório poderá declarar em seus certificados de calibração, incertezas de medição maiores que a sua CMC, devido às contribuições relativas ás propriedades ou características do padrão ou instrumento de medição calibrado. |
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